| Научен проект |
|
1
|
Йордан Кърмаков, Изследване на перспективни за създаване на постоянни
магнити
водородосъдържащи наноразмерни интерметални редкоземни
съединения
със структура от типа Nd2Fe14B, Член,
|
2018
|
|
2
|
Йордан Кърмаков, Изследване на поглъщането на водород от редкоземни интерметални съединения и магнитните свойства на техните хидриди във вид на субмикронни и наночастици, Член, СУ, Номер на договора:№74/12.04.2016 г
|
2016
|
|
3
|
Йордан Кърмаков, „Перспективни материали на основата на разредени нитриди на А3В5 съединения за следваща генерация слънчеви елементи“, Член, СУ, Номер на договора:№692/2015г.
|
2015
|
|
4
|
Йордан Кърмаков, “ Явления на захват и тяхното влияние върху дълговременната надежност на
наноразмерни структури на метален електрод и high-k диелектрик”,
, Член, MOMH, Номер на договора:DTK 02/50
|
2010
|
| Научно ръководство |
|
|
Йордан Кърмаков, Моделиране на текстурирана силициева повърхност за елипсометрията, СУ, Физически факултет дипломна работа:Мартин Цветков
|
2014
|
| Статия в научно списание |
|
1
|
Yordan Karmakov, A.Pasksleva, D. Spassov, Interfaces in ALD very thin Al2O3/HfO2 stacks studied by
ellipsometry, Journal of Physics:Conference Series, vol:2436, 2023, pages:12015-0, doi:doi:10.1088/1742-6596/2436/1/012015, Ref, Web of Science
|
2023
|
|
2
|
Yordan Karmakov, A.Pasksleva, D. Spassov, Depth profiling of very thin HfO2/Al2O3 stacks by ellipsometry, Journal of Physics:Conference Series, vol:2240, 2022, pages:12049-0, doi:DOI 10.1088/1742-6596/2240/1/012049, Ref, Web of Science
|
2022
|
|
3
|
V. Donchev, M.Milanova, I.Asenova, N.Shtinkov, D.Alonso-Alvarez, A.Melor, Y.Karmakov, S.Georgiev, N. Ekins-Daukes, Effect of Sb in thick InGaAsSbN layers grown by liquid phase epitaxy, Journal of Crystal Growth, vol:483, 2018, pages:140-146, Ref, Web of Science, IF (1.6 - 2018), Web of Science Quartile: Q2 (2018), SCOPUS, SJR (0.515 - 2018), SCOPUS Quartile: Q2 (2018), International, PhD
|
2018
|
|
4
|
Y.Karmakov, A.Paskaleva, Influence of Hf doping on interfacial layers of Ta2O5 stacks studied by
ellipsometry, Applied Surface Science, брой:271, 2013, стр.:12-18, Ref, IF, IF (3.876 - ), в сътрудничество с чуждестранни учени
|
2013
|
|
5
|
Y.Karmakov, A.Paskaleva, E.Atanassova, "Interfacial layers in Ta2O5 based stacks and constituent depth profiles by spectroscopic ellipsometry", Applied Surface Science, том:Volume 258, брой:Issue 10, 2012, стр.:4507-4512, Ref, Web of Science
|
2012
|
|
6
|
I.Karmakov, Konova.A, Atanasova.E, Paskaleva.A, Spectroscopic ellipsometry of very thin tanatlum pentoxide on Si, Applied Surface Science, том:255, брой:22, 2009, стр.:9211-9216, doi:10.1016/j.apsusc.2009.07.014, Ref, IF, IF (3.387 - )
|
2009
|
|
7
|
Y.Karmakov, Chakarov, I., Damage profiling of very shallow implanted silicon , Journal of Optoelectronics and Advanced Materials , том:9, брой:2, 2007, стр.:409-412, Ref, IF, IF (0.62 - ), в сътрудничество с чуждестранни учени
|
2007
|
|
8
|
I.Karmakov, A.Konova, I.Chakarov, Spectrocsopic ellipsometry as a tool for damage profiling in very shallow implanted silicon, plasma processes and polimers, том:3, брой:2, 2006, стр.:214-218, Ref, IF, IF (0.977 - ), в сътрудничество с чуждестранни учени
|
2006
|
|
9
|
I.Karmakov, Chakarov, I., A.Konova, Depth profile characterization of low-energy B+- and Ge+-ion-implanted Si, Applied Surface Science, том:211, брой:1-4, 2003, стр.:270-279, Ref, IF, IF (3.387 - )
|
2003
|
|
10
|
Karmakov, Iordan, Wetting or non-wetting liquid?, Physics Education, vol:35, issue:6, 2000, pages:435-438, ISSN (online):00319120, doi:10.1088/0031-9120/35/6/310, Ref, Web of Science
|
2000
|
|
11
|
Karmakov, Iordan, Wetting or non-wetting liquid?, Physics Education, vol:35, issue:6, 2000, pages:435-438, ISSN (online):00319120, doi:10.1088/0031-9120/35/6/310, Ref, Web of Science
|
2000
|
|
12
|
Konova, A, Tonova, D, Karmakov, J, Damage depth profiles of shallow-implanted or compositional-graded surfaces for X-ray and γ-ray detectors, Nuclear Instruments and Methods in Physics Research, Section A: Accelerators, Spectrometers, Detectors and Associated Equipment, том:Volume 380, брой:Issue 1-2, 1996, стр.:97-101, Ref, Web of Science
|
1996
|
| Статия в сборник (на конференция и др.) |
|
1
|
M.Milanova, V.Donchev, P.Terziyska, E.Valcheva, S.Georgiev, K.Kirilov, I.Asenova, N.Shtinkov, Y.Karmakov, I.G.Ivanov, Investigation of LPE grown dilute nitride
InGaAs(Sb)N layers for photovoltaic
applications, AIP Conference Proceedings 2075 , 2019, pages:140004-0, doi:0.1063/1.5091319, Ref, Web of Science, PhD
|
2019
|
|
2
|
I.E.Karmakov, A.A.Konova, Determination of compositional profiles and thicknesses of the etched surface of CdTe and Cd 0.9 Zn 0.1 Te by spectroscopic ellipsometry, Nuclear Science Symposium Conference Record, 2008. NSS'08. IEEE, издателство:IEEE, 2008, стр.:343-347, Ref
|
2008
|
| Участие в конференция |
|
1
|
Постер, Йордан Кърмаков, Ellipsometry of ultra thin and very thin Al2O3-HfO2 stacks for nano-memory applications
|
2023
|
|
2
|
Постер, Йордан Кърмаков, Interfaces in very thin ALD Al2O3/HfO2 stacks studied by ellipsometry
|
2022
|
|
3
|
Постер, Йордан Кърмаков, Depth profiling of very thin (Al2O3)/(HfO2) stacks by ellipsometry
|
2021
|
|
4
|
Постер, Йордан Кърмаков, Applications and Data Analysis Examples of Spectroscopic Ellipsometry
|
2020
|
|
5
|
Секционен доклад, Йордан Кърмаков, “Characterization of Inhomogeneous interfaces in stacks by VASE”, 14-th J A Woollam Ellipsometry Seminar - Nottingham, United Kingdom, 01.10.2014
|
2014
|
|